X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無汙染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。
 

　　X射線衍射儀(XRD)是通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。
 

　　X射線衍射儀使用注意事項：
 

　　(1)固體樣品表麵>10×10mm，厚度在5μm以上，表麵必須平整，可以用幾塊粘貼一起。
 

　　(2)對於片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
 

　　(3)對於測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變)，測量殘餘奧氏體，要求製備成金相樣品，並進行普通拋光或電解拋光，消除表麵應變層。
 

　　(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大於5g。
 

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